隨著汽車電子技術的進步，今天的汽車里都有很多繁複的數據管理控制系統，并透過許多各自獨立的電路，來傳遞每個模組間所需要的訊號，汽車內部的系統就好比電腦網路的「主從架構」，在主體控制單元與每個周邊模組中，車用電子零件分為三大類別，包含IC、離散半導體、被動元件三大類別，為了確保這些汽車電子零組件符合汽車anquan的最高標準，美國汽車電子協會(AEC，Automotive Electronics Council )係以主動零件[微控制器與積體電路..等]為標的所設計出的一套標準 [AEC-Q100]、針對被動元件設計為[[AEC-Q200]，其規范了被動零件所必須達成的產品品質與可靠度，AEC-Q100為AEC組織所制訂的車用可靠性測試標準，為3C、IC廠商打進國際車用大廠模組的重要入場卷，也是提高臺灣IC可靠性品質的重要技術，此外，目前國際大廠已經通過車用anquan性標準(ISO-26262)，而AEC-Q100則為通過該標準的基本要求。
要求通過AECQ-100的車用電子零配件哉要列表：
車用一次性記憶體、電源降壓穩壓器、車用光電耦合器、三軸加速規感測器、視訊jiema器、整流器、環境光感測器、非易失性鐵電存儲器、電源管理IC、嵌入式快閃記憶體、DC/DC穩壓器、車規網路通訊設備、液晶驅動IC、單電源差動放大器、電容接近式開關、高亮度LED驅動器、非同步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS高級駕駛員輔助系統晶片、GNSS接收器、GNSS前端放大器..等。
AEC-Q100類別與測試：
說明：AEC-Q100規范7大類別共41項的測試
群組A-加速環境應力測試(ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS)共6項測試，包含：PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL
群組B-加速生命週期模擬測試(ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS)共3項測試，包含：HTOL、ELFR、EDR
群組C-封裝組裝完整性測試(PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS)共6項測試，包含：WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI
群組D-晶片製造可靠性測試(DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS)共5項測試，包含：EM、TDDB、HCI、NBTI、SM
群組E-電性驗證測試(ELECTRICAL VERIFICATION TESTS)共11項測試，包含：TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER
群組F-缺陷篩選測試(DEFECT SCREENING TESTS)共11項測試，包含：PAT、SBA
群組G-腔封裝完整性測試(CAVITY PACKAGE INTEGRITY TESTS)共8項測試，包含：MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV
測試項目簡稱說明：
AC：壓力鍋
CA：恆加速
CDM：靜電放電帶電器件模式
CHAR：特性描述
DROP：包裝跌落
DS：晶片剪切試驗
ED：電分配
EDR：非易失效儲存耐久性、數據保持性、工作壽命
ELFR：早期壽命失效率
EM：電遷移
EMC：電磁兼容
FG：故障等級
GFL：粗/細氣漏測試
GL：熱電效應引起閘極漏電
HBM：靜電放電人體模式
HTSL：高溫儲存壽命
HTOL：高溫工作壽命
HCL：熱載流子注入效應
IWV：內部吸濕測試
LI：引腳完整性
LT：蓋板扭力測試
LU：閂鎖效應
MM：靜電放電機械模式
MS：機械沖擊
NBTI：富偏壓溫度不穩定性
PAT：過程平均測試
PC：預處理
PD：物理尺寸
PTC：功率溫度循環
SBA：統計式良率分析
SBS：錫球剪切
SC：短路特性描述
SD：可焊性
SER：軟誤差率
SM：應力遷移
TC：溫度循環
TDDB：時經介質擊穿
TEST：應力測試前后功能參數
TH：無偏壓濕熱
THB、HAST：有施加偏壓的溫濕度或高加速應力試驗
UHST：無偏壓的高加速應力試驗
VFV：隨機振動
WBS：焊線剪切
WBP：焊線拉力
溫濕度試驗條件整理：
THB(有施加偏壓的溫濕度，依據JESD22 A101)：85℃/85%R.H./1000h/bias
HAST(高加速應力試驗，依據JESD22 A110)：130℃/85%R.H./96h/bias、110℃/85%R.H./264h/bias
AC壓力鍋，依據JEDS22-A102：121℃/100%R.H./96h
UHST無偏壓的高加速應力試驗，依據JEDS22-A118，設備：HAST-S)：110℃/85%R.H./264h
TH無偏壓濕熱，依據JEDS22-A101，設備：THS)：85℃/85%R.H./1000h
TC(溫度循環，依據JEDS22-A104，設備：TSK、TC)：
等級0：-50℃←→150℃/2000cycles
等級1：-50℃←→150℃/1000cycles
等級2：-50℃←→150℃/500cycles
等級3：-50℃←→125℃/500cycles
等級4：-10℃←→105℃/500cycles
PTC(功率溫度循環，依據JEDS22-A105，設備：TSK)：
等級0：-40℃←→150℃/1000cycles
等級1：-65℃←→125℃/1000cycles
等級2～4：-65℃←→105℃/500cycles
HTSL(高溫儲存壽命，JEDS22-A103，設備：OVEN)：
塑料封裝零件： 等級0：150℃/2000h
等級1：150℃/1000h
等級2～4：125℃/1000h or 150℃/5000h
陶瓷封裝零件：200℃/72h
HTOL(高溫工作壽命，JEDS22-A108，設備：OVEN)：
等級0：150℃/1000h
等級1：150℃/408h or 125℃/1000h
等級2：125℃/408h or 105℃/1000h
等級3：105℃/408h or 85℃/1000h
等級4：90℃/408h or 70℃/1000h
ELFR(早期壽命失效率，AEC-Q100-008)：通過這項應力測試的器件可以用在其他應力測試上，通用數據可以使用，ELFR前后的測試在是溫和高溫條件下進行。