闪存温度测试原因

为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升温或降温 18°C，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务

闪存温度测试方法:

通过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode

闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行高低温循环测式，将闪存与 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接，如此即可准确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。inTEST-Temptronic thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用，进行芯片高低温循环测试。

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