inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件高低温测试

美国 inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试. 通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通过使用 inTEST 最大可能的减少长线缆导致的测试问题, 兼容接头将 Keysight 分析仪与 inTEST 热板连接在一起.

美国 inTEST HP289-PM 是一个温控平台, 可以与 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析仪联用. 该平台允许自动控制板温度, 从外壳环境温度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET.

主要特点：

1. 自动温度循环

2. 实时数据记录

3. 动态 DUT 温度控制

4. 本地和远程操作

功率器件高低温测试案例二:

inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.

测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 Thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.

美国 inTEST ThermalStream 热流仪搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50°C 至+ 250°C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, ThermoStream 具有快速的热循环和准确的温度控制,是高功率器件可靠性测试和表征的理想选择.

主要特点：

1. 自动温度循环

2. 实时数据记录

3. 动态 (DUT) 温度控制

4. 本地和远程操作

5. 无霜测试环境

6. 节能模式

功率器件高低温测试案例三:

某企业购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 为 MOSFET \ MOS 管, 场效应管, TO 封装等器件提供 -50 至 +150 °C 快速精准的外部温度环境, 满足测试器件性能的要求.

inTEST Thermal Plate 热台 (环境温度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可满足高温和极低温测试的需求. 两种温度测试都具有温度自动循环, 数据记录和远程通信功能.

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