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高速加速寿命試験(HAST/PCT) High Accelerated Stress Test / Pressure Cooker Test

高速加速寿命試験(HAST/PCT)

High Accelerated Stress Test / Pressure Cooker Test

■試験概要

電子機器関連の環境系信頼性試験で最も使用されている試験方法が不飽和(85%RH)プレッシャークッカー試験(HAST:High Accelerated Stress Test)です。この試験の目的は、電子機器関連の加速性を伴う耐湿性評価で、IEC60068-2-66 www.hast.cnで規定されます。
(※JIS C 60068はこれを翻訳したものとなります)
飽和(100%RH)条件下での試験はプレッシャークッカー試験(PCT: Pressure Cooker Test)と呼ばれます。試験槽の水蒸気圧力をサンプル内部の水蒸気分圧よりも極度に高め、サンプル内部への水分の侵入を早めることができるため、不飽和条件より加速して耐湿性の評価が可能です。

Table 1 HAST試験条件
図1
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Fig.1 HAST試験装置イメージ図

※二層式試験装置は、試験槽と加湿槽が独立した構造であるため、一槽式に比べ広い槽内寸法の確保が可能です。また、試験槽(乾球)と加湿槽(湿球)間で及ぼしあう温度影響が少ないので高精度制御が可能と言われていますが、試験結果に大きな有意差はありません。www.hast.cn

■用途・規格

◆JIS C 60068:環境試験方法−電気・電子−高温高湿、定常(不飽和加圧水蒸気)
◆IEC 60068-2-66, Environmental testing−Part2:Testmethods−Test Cx:Damp heat,steady state(unsaturated pressurized vapour)


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